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        Synopsys Chip Synthesis設計邏輯綜合與DFT Compiler培訓
  培養(yǎng)對象
  1.理工科背景,有志于數(shù)字集成電路設計工作的學生和轉(zhuǎn)行人員;
  2.需要充電,提升技術水平和熟悉設計流程的在職人員;
  3.集成電路設計企業(yè)的員工內(nèi)訓。
   入學要求

        學員學習本課程應具備下列基礎知識:
        ◆電路系統(tǒng)的基本概念。

   班級規(guī)模及環(huán)境--熱線:4008699035 手機:15921673576( 微信同號)
       每期人數(shù)限3到5人。
   上課時間和地點
上課地點:【上海】:同濟大學(滬西)/新城金郡商務樓(11號線白銀路站) 【深圳分部】:電影大廈(地鐵一號線大劇院站)/深圳大學成教院 【北京分部】:北京中山學院/福鑫大樓 【南京分部】:金港大廈(和燕路) 【武漢分部】:佳源大廈(高新二路) 【成都分部】:領館區(qū)1號(中和大道) 【沈陽分部】:沈陽理工大學/六宅臻品 【鄭州分部】:鄭州大學/錦華大廈 【石家莊分部】:河北科技大學/瑞景大廈 【廣州分部】:廣糧大廈 【西安分部】:協(xié)同大廈
最近開課時間(周末班/連續(xù)班/晚班):
Synopsys Chip Synthesis與DFT:2020年3月16日
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        1、培訓過程中,如有部分內(nèi)容理解不透或消化不好,可免費在以后培訓班中重聽;
        2、培訓結束后,授課老師留給學員聯(lián)系方式,保障培訓效果,免費提供課后技術支持。
        3、培訓合格學員可享受免費推薦就業(yè)機會。

        Synopsys Chip Synthesis設計邏輯綜合與DFT Compiler培訓

第一階段

Synopsys Chip Synthesis 設計邏輯綜合?

 簡介
  DC是業(yè)界最優(yōu)秀的設計綜合工具,將行為級描述的設計在一定的規(guī)約下轉(zhuǎn)化為邏輯結構。采用行為級描述可以提高邏輯設計的層次,減低邏輯設計的復雜度,提高設計效率。本門課程覆蓋了ASIC綜合設計的過程--從掌握用HDLVerilog and VHDL)設計到產(chǎn)生最后的門級網(wǎng)表。試驗中VerilogVHDL的實例都有講解。

  ● 主要內(nèi)容
   ◎ 創(chuàng)建一個有時序驅(qū)動的設計
   ◎ 創(chuàng)建設計約束
   ◎ 設計綜合及優(yōu)化
   ◎ 時序分析

  ● 適用以下人員
   ◎ 具有數(shù)字IC設計的知識;
   ◎ 了解Verilog VHDL

第二階段

Synopsys DFT Compiler?

● 課程簡介:
    DFT Compiler提供獨創(chuàng)的"一遍測試綜合"技術和解決方案。它和Design Compiler、Physical Compiler系列產(chǎn)品集成在一起的,包含功能強大的掃描式可測性設計分析、綜合和驗證技術。DFT Compiler可以使設計者在設計流程的前期,方便的實現(xiàn)高質(zhì)量的測試分析,確保時序要求和測試覆蓋率要求同時得到滿足。DFT Compiler同時支持RTL級、門級的掃描測試設計規(guī)則的檢查,以及給予約束的掃描鏈插入和優(yōu)化,同時進行失效覆蓋的分析。
   TetraMAX ATPG是業(yè)界功能最強、最易于使用的自動測試向量生成工具。針對不同的設計,TetraMAX可以在最短的時間內(nèi),生成具有最高故障覆蓋率的最小的測試向量集。TetraMAX支持全掃描、或不完全掃描設計,同時提供故障仿真和分析能力。  

● 主要內(nèi)容:
   1、 深刻理解DFTC和TetraMAX中測試的概念,在邏輯中怎樣用D算法查找目標缺陷,明白為什么掃描路徑對于支持ATPG是必須的,以及ATE怎樣執(zhí)行一個ATPG測試模式。
   2、 在基本DFTC測試流程中,將獲得①建立缺省的測試參數(shù);②執(zhí)行測試編譯;③檢查掃描路徑;④在塊中插入掃描鏈;⑤在DFTC中預估故障覆蓋率。
   3、 在大多數(shù)ASIC設計中,提高邏輯電路的可測性以及如何改善,如內(nèi)部時鐘、異步置位或復位信號等。
   4、 提高邏輯電路的測試覆蓋率,如內(nèi)部或外部三態(tài)總線、雙向插腳、嵌入式存貯塊等。
   5、 了解作為邏輯設計的另一方面的掃描路徑插入,及如何管理復雜的設計,如自頂向下和自底向上方法、掃描鏈數(shù)和測試時間等。
   6、 了解轉(zhuǎn)出一個設計到TetraMAX的關鍵步驟及測試協(xié)議文件所包含的信息等。

●????????? 課程安排
    
第一部分
    1、 Understanding Scan Testing
     2、 Baseline DFTC Flow
     第二部分
    3、 DFT for General Logic
     4、 DFT for "Test-Resistant"Logic
     5、 How to Insert Scan Paths
     第三部分
  
  6、 Exporting to TetraMAX
     7、 Using TetraMax ATPG
     8、 Wrap-Up:Testing the SOC
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